Microscopía óptica avanzada (MOA)
utiliza equipos como los microscopios confocal,
con una resolución nanométrica
que proporciona información
detallada sobre las formas
de los materiales y su textura.
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Microscopía electrónica de barrido (SEM)
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funcionan con lentes electromagnéticas, bobinas deflectoras, detectores de radiación y un haz de electrones móvil y concentrado que va recorriendo toda la muestra punto por punto
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La imagen resultante se visualiza en una pantalla e incluye información morfológica, cristalográfica, topográfica y de composición.
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Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
construye la imagen a partir de los electrones
que atraviesan el objeto analizado, y no de los que se dispersan
o rebotan contra la superficie.
Además, la TEM usa muestras más finas y
tiene una resolución más potente, de nivel atómico.
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Microscopía electrónica de
transmisión con barrido (STEM):
La pérdida de energía posibilita la
caracterización de la composición
química de los materiales.
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Microscopía de efecto de túnel (STM)
Cuando se acerca a la superficie de la muestra, se produce un intercambio de electrones entre los puntos más cercanos del material y el borde de la sonda. De este modo, se reconstruye átomo por átomo el relieve de la superficie.